给学生检查龋齿时不许用探针 急性龋齿冠周炎的治疗

　　给学生检查龋齿时不许用探针

　　用探针作牙齿检查容易对牙齿造成一定损害，有鉴于此，日本学校牙科医疗学会不久前作出决定，医生在给学生作牙齿检查时不再使用探针。

　　龋齿是由细菌感染所致，近来牙科医学正在大力研究牙釉质再生的问题。在龋齿早期，如果进行适当的指导，选择合适的牙刷，用氟化物漱口，即可促进牙釉质的再生，龋齿无须处理即可治愈。

　　从幼儿园到中学，是容易出现龋齿的阶段。现在日本的牙齿保健医疗手册上明文写着检查龋齿使用探针，检查时用探针捅牙齿沟洼部分。如果感到有粘性，该牙就被怀疑为早期龋齿，需要进行观察；如果探针可以进入牙齿表层，就是标准的龋齿。在给学生检查牙齿时，医生往往用尖尖的探针在牙上乱捅，这样容易破坏牙釉质，进而损害牙齿的自愈能力。因此，日本学校牙科医疗学会决定停止使用探针，学生牙齿由保健检查变为“视诊”，重点放在保护牙齿教育上。在与文部科学省协商之后，学校医疗学会决定改变牙齿保健检查手册的内容，从明年春起实行新的标准。

　　最近日本已发明出龋齿激光测定器，海外不少国家也以“视诊”为主，因此人们普遍要求检查龋齿停止使用探针。

　　急性龋齿冠周炎的治疗

　　正在萌出或阻生的智齿，其周围软组织发生的炎性病变称为智齿冠周炎。本病发病年龄真8-35岁。下颌智齿在下颌骨的萌出位置不足，导致下颁智齿萌出受阻，部分萌出的智齿与周围牙龌辨之间形成盲袋，嵌塞食物及细菌，一旦遇有感冒、疲劳等全身机体抵抗力降低时，常诱发急性冠周炎。上颌智齿冠周炎少见。

　　[临床表现]

　　1，初期患侧磨牙后区有肿胀不适感，继而疼痛，咀嚼及吞咽时加重，早期多为钝痛。当感染波及咀嚼肌筋膜，可出现张口受限，或面部(主要是颊部、颌下区、腮腺咬肌区)肿胀。局部感染加重时，可出现发热、乏力。头痛等全身症状。

　　2．口内检查可见阻生智齿、周围软组织充血、水肿、糜烂、触痛，盲袋内有食物残渣或脓性渗出物。晚期在智齿周围可形成脓肿，有部分病例中，由于感染沿下颌骨向下扩散，脓肿可位于第二磨牙的颊侧或颊部。患侧须下淋巴结肿大、触痛。

　　[诊断]

　　1．根据病史和临床表现。

　　2．x线检查可了解阻生智齿的位置，生长方向、牙根形态，还可发现口内不易探查到的第二磨牙远中颈部龋。

　　3，实验室检查：血常规中自细胞总数增高，中性粒细胞增多，核右移。

　　4，此外应与第二磨牙远中龋引起的牙髓炎相鉴别。

　　(1)疼痛表现不同。

　　(2)牙髓活力测验：冷热刺激疼。

　　(3)X线表现不同。

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