X线头影测量概述
X线头影测量是对头部进行投影测量,用于检查颅面生长情况和畸形的重要手段。
X线头影测量正常值
检查中没有发现异常阴影和图样。
X线头影测量临床意义
异常结果:
1.研究颅面生长发育X线头影测量是研究颅面生长发育的重要手段,一方面可通过对各年龄阶段个体作X线头影测量分析,从横向研究颅面生长发育,同时也可用于对个体不同时期的测量分析,而作颅面生长发育的纵向研究。
2.牙颌、颅面畸形的诊断分析通过X线头影测量对颅面畸形的个体进行测量分析,可了解畸形的机制、主要性质及部位,是骨骼性畸形抑或牙 合性畸形,使对畸形能作出正确的诊断。
3.确定错合畸形的矫治设计从X线头影测量分析研究中得出正常 合关系可存在于各种不同的颅面骨骼结构关系中,而一些牙齿的位置能在一定的颌面结构下得到稳定,因而当通过测量分析牙颌、颅面结构后,根据错合的机制,可确定颌位及牙齿矫治的理想位置,从而制定出正确可行的矫治方案。
4.研究矫治过程中及矫治后的牙颌、颅面形态结构变化X线头影测量亦常用作评定矫治过程中,牙颌、颅面形态结构发生的变化,从而了解矫正器的作用机制和矫治后的稳定及复发情况。如关于口外支抗唇弓矫正器及下颌颏兜矫正器等对牙颌、颅面结构的作用及变化,都是在使用X线头影测量以后才得以明确和澄清的。
5.外科正畸的诊断和矫治设计通过X线头影测量对需进行外科正畸的严重颅面畸形患者进行颅面软硬组织的分析,得出畸形的主要机制,以确定手术的部位、方法及所需移动或切除颌骨的数量,同时应用X线头影图迹进行剪裁,模拟拼对手术后牙颌位置,得出术后牙颌、颅面关系的面型图,为外科正畸提供了充分的根据,从而提高了其诊断及矫治水平。
6.下颌功能分析X线头影测量还可以用来研究下颌运动,语言发音时的腭功能以及息止合间隙等方面的功能分析。也有用于下颌由息止位至咬合时髁突、颌位等位置运动轨迹的功能研究。
需要检查的人群:颅面生长异常,面部畸形的人群。
X线头影测量检查方法
进入X线检查室,端坐在检查检查仪器前,脸部侧面正对X线仪,进行拍片。
X线头影测量注意事项
不合宜人群:孕妇,青少年。
检查前禁忌:X射线有一定辐射,需要作好心理准备。治疗诊断要求必须做X射线检查,应穿戴铅保护用品。应对非受照部位,特别是性腺、甲状腺等对X射线反应敏感的部位进行防护,穿戴防护设备。
检查时要求:听从医生吩咐进行检查。X射线机处于工作状态时,放射室门上的警告指示灯会亮,此时候诊者,一律在防护门外等候,不要在检查室内等候拍片。患者没有特别需要陪护的情况下,家属不要进入检查室内陪同,以减少不必要的辐射。